技术指标

元素分析范围：B(5)-Am(95)

物镜极靴间距：≥5.5mm

信息分辨率：≤0.12nm

放大倍数：25-1500000倍

扫描透射分辨率：≤0.16nm

加速电压：200kV        

主要功能

材料结构分析：STEM模式和TEM模式能够对无机及有机材料结构进行高分辨表征和分析，可观察材料的晶体结构、缺陷、界面等信息。

形貌与成分分析：可对无机材料进行形貌和成分三维重构，以及常规的形貌、成分、衍射分析，配合能谱仪能对样品元素进行面分布分析和定性、半定量微区分析。

电镜原位实验：通过选择特定的样品台，可进行加热、低温、通电、通液体、电化学、力学、光学等原位测试，研究材料在不同外界条件下的结构和性能变化。

所在单位 化学与材料工程学院

生产厂商 美国赛默飞世尔科技公司

型号规格 FEI Talos F200X

联系人  郭晓伟

联系电话 15083138681

收费标准 粉末样品制样：50元/样；形貌(高分辨)：250元/样；选区衍射：50元/样；能谱分析（mapping、线扫以及元素含量分析）：150元/样（单个样品测试时间不超过1小时）